导师姓名：尤志强
性别：
人气指数：44

所属院校：湖南大学
所属院系：信息科学与工程学院
职称：副教授
导师类型：
招生专业：


个人简述 :
尤志强，男，1972年10月5日出生。博士，副教授。美国电气电子工程师学会(IEEE)和日本电子情报通信学会(IEICE)会员。研究领域为集成电路设计与测试, 算法分析与设计。主持国家自然科学基金一项, 参与国家自然科学基金三项，发表学术论文17篇，其中SCI收录3篇, EI收录7篇。

科研工作 :
主要论文——[1] Zhiqiang You, Tsuyoshi Iwagaki, Michiko Inoue and Hideo Fujiwara, “A low power deterministic test using scan chain disable technique,” IEICE Trans. on Information & Systems, Vol. E89-D, No. 6, pp.1931-1939, Jun. 2006. （SCI收录，EI收录）[2] Zhiqiang You, Michiko Inoue, Hideo Fujiwara, “Extended Compatibilities for Scan Tree Construction”, Digest of papers,11th IEEE European Test Symposium (ETS06), pp. 13-18, May 2006.[3] Zhiqiang You, Ken-ichi Yamaguchi, Michiko Inoue, Jacob Savir and Hideo Fujiwara , “Power-Constrained Test Synthesis and Scheduling Algorithms for Non-Scan BIST-able RTL Data Paths”. IEICE Trans. on Information & Systems, Vol. E88-D, No. 8, pp.1940-1947, Aug. 2005. （SCI收录，EI收录）[4] Zhiqiang You, Tsuyoshi Iwagaki, Michiko Inoue, Hideo Fujiwara, “A Low Power Deterministic Test Using Scan Chain Disable Technique”, IEEE 6th Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT’05), pp.184-191, July 2005.[5] Zhiqiang You, Ken-ichi Yamaguchi, Michiko Inoue, Jacob Savir and Hideo Fujiwara, “Power-constrained test scheduling for RTL datapaths of non-scan BIST schemes”. IEEE Proc. ATS, 2004.32-39. （EI收录）[6] Zhiqiang You, Michiko Inoue and Hideo Fujiwara, "On the non-scan BIST schemes under power constraints for RTL data paths," IEEE 4th Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT'03), pp.14-21, Nov. 2003.[7] 尤志强, 张大方. 数据等概率分档排序算法的定量研究. 计算机学报. 2003, 26(1): 45-50. （EI收录）[8] KUANG JiShun, YOU ZhiQiang, ZHU Qijian, MIN Yinghua. IDDT : Fundamentals and Test Generation. Journal of Computer Science & Technology, 2003, 18(3): 299-307.（SCI收录，EI收录）[9] 尤志强, 张大方, 刘先霞. 基于布尔过程论的波形和波形空间的性质及应用. 电子学报. 2000, 28(8): 107-109. （EI收录）[10] 尤志强, 蔡洪波, 张大方, 谢兵. 数据等概率分档统计插入排序算法，湖南大学学报，2001, 28(6):106-110.（EI收录）

教育背景 :
1995年毕业于湖南大学应用数学专业，获理学学士学位，2002年在湖南大学获计算机应用专业工学硕士学位。2006年3月在日本国奈良先端科学技术大学大学信息处理学专业获工学博士学位。